簡(jiǎn)要描述：Bruker布魯克納米壓痕儀劃痕儀PI 89利用掃描電子顯微鏡（SEM、FIB/SEM）的成像能力，可以在成像的同時(shí)進(jìn)行定量納米力學(xué)測(cè)試。這套全新系統(tǒng)搭載 Bruker 電容傳感技術(shù)，繼承了商業(yè)化原位 SEM 納米力學(xué)平臺(tái)的優(yōu)良功能。該系統(tǒng)可實(shí)現(xiàn)包括納米壓痕、拉伸、微柱壓縮、微球壓縮、懸臂彎曲、斷裂、疲勞、動(dòng)態(tài)測(cè)試和力學(xué)性能成像等功能。
所在城市：國(guó)外廠商性質(zhì)：經(jīng)銷商更新日期：2024-04-19訪 問 量：2153產(chǎn)品目錄
| 品牌 | Bruker/布魯克 | 價(jià)格區(qū)間 | 100萬(wàn)-150萬(wàn) |
|---|---|---|---|
| 產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 化工,生物產(chǎn)業(yè),石油,地礦,綜合 |
| 樣品定位范圍 | 12 mm x 26 mm x 29 mm （壓痕軸） | 樣品定位靈敏度 | 1 nm （編碼） |
| 系統(tǒng)基本重量 | 480g |
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