用于科研和工業(yè)研發(fā)的近紅外光致發(fā)光模塊

對(duì)于半導(dǎo)體和光電行業(yè)來(lái)說(shuō)，光致發(fā)光PL是在研發(fā)過(guò)程中極 為重要的一個(gè)實(shí)驗(yàn)工具。在紅外光譜范圍，傅立葉紅外光譜 儀比傳統(tǒng)色散型譜儀的靈敏度要高得多。與VERTEX 傅立葉紅 外譜儀聯(lián)用的PLII 模塊提供了業(yè)內(nèi)最靈活和強(qiáng)大的PL分 析方案。

· 可實(shí)現(xiàn)對(duì)塊狀樣品、量子阱和量子點(diǎn)樣品的PL分析，在 4000 cm-1 (< 2.5 µm)以上的光譜范圍具有超高靈敏度。

· 可添加第二個(gè)內(nèi)置激發(fā)激光，也可結(jié)合外置特殊激發(fā)激光 使用。

· 可選專(zhuān)用附件：掃描成像樣品臺(tái)，可攝像物鏡，恒溫器適配 器等。

用于科研和工業(yè)研發(fā)的中紅外光致發(fā)光模塊

在低于4000 cm-1 (>2.5µm)的光譜范圍，PL信號(hào)將受到大氣吸收以 及熱輻射背景的嚴(yán)重干擾。利用VERTEX 80v 真空型紅外光譜儀，并 結(jié)合專(zhuān)用的PL 真空模塊，可以消除上述兩種因素的干擾，實(shí)現(xiàn) 4000 cm-1 至1000 cm-1 甚至更低光譜范圍的中紅外PL測(cè)量。

· 真空型傅立葉紅外光譜儀可以在中紅外譜區(qū)內(nèi) 實(shí)現(xiàn)對(duì)塊狀樣品、 量子阱和量子點(diǎn)樣品的PL分析，消除大氣的干擾，并可擴(kuò)展至近紅 外PL。

· 先進(jìn)的步進(jìn)掃描功能結(jié)合調(diào)制技術(shù)可消除熱輻射背景的干擾。

· 可添加自動(dòng)切換的光路，用于光調(diào)制反射和光調(diào)制透射實(shí)驗(yàn)。

· 可選的恒溫器適配器和激發(fā)激光，可與外置特殊激光結(jié)合使用。